Objectifs par rapport aux acquis d'apprentissage du programme

• Posséder, dans le domaine des sciences chimiques, des connaissances hautement spécialisées et intégrées, ainsi que de larges compétences prolongeant celles qui relèvent du niveau de bachelier en sciences chimiques
• Contribuer, seuls ou en équipe, à la conduite et à la réalisation d'un projet de développement d'envergure en lien avec les sciences chimiques
• -Pouvoir mobiliser, articuler et valoriser les connaissances et les compétences acquises
• -Faire preuve d'autonomie et être capable de travailler seul ou en équipe
• Gérer des travaux de recherche, de développement ou d'innovation relevant des sciences chimiques et/ou de leurs applications
• -Etre capable de mobiliser leurs connaissances de manière efficace, d'identifier leurs limites, de conduire une recherche méthodique et d'analyser de manière critique des informations scientifiquement valides
• Communiquer clairement dans le domaine scientifique
• -Pouvoir communiquer de façon claire, structurée et argumentée, tant à l'oral qu'à l'écrit, ses conclusions, ses propositions originales ainsi que les connaissances et principes sous-jacents
• Développer et intégrer un fort degré d'autonomie
• -Etre capable de poursuivre leur formation et d'acquérir des savoirs complémentaires et des compétences nouvelles
• Appliquer une méthodologie scientifique de qualité
• -Faire preuve de rigueur, d'autonomie, de créativité, d'honnêteté intellectuelle, de sens éthique et déontologique

Acquis d'apprentissage UE

Acquérir les principaux concepts théoriques et expérimentaux relatifs aux microscopies à sonde locale, en termes d'imagerie, de cartographie des propriétés et de lithographie, et aborder l'application pratique de ces concepts

Contenu de l'UE

• - Scanning tunneling microscopy • o General principles • o Applications • o Scanning tunneling spectroscopy • - Atomic force microscopy • o General presentation • o Operation modes • o Force curves • o Experimental aspects • - Other scanning force microscopies • o Electrostatic force microscopy and derived techniques • o Magnetic force microscopy • - Scanning optical microscopies • - Surface modifications with a local probe • o Electrochemical nanolithography • o Mechanically-induced modifications • o Dip-pen lithography

Compétences préalables

Sans objet

Types d'évaluation Q1 pour l'épreuve intégrée

• Néant

Commentaire sur l'épreuve intégrée Q1

Sans objet

Types d'évaluation Q2 pour l'épreuve intégrée

• Présentation et travaux

Commentaire sur l'épreuve intégrée Q2

Sans objet

Types d'évaluation du Q3 pour l'épreuve intégrée

• Présentation et travaux

Commentaire sur l'épreuve intégrée Q3

Sans objet

Commentaire sur l'épreuve intégrée rattr. Q1

Sans objet