| Code | Titulaire(s) | Co-Titulaire(s) | Suppléant(s) et autre(s) |
|---|---|---|---|
| S-CHIM-047 |
|
| Langue d’enseignement | Langue d’évaluation | HT(*) | HTPE(*) | HTPS(*) | HR(*) | HD(*) | Période d’enseignement |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Français | Français | 15 | 0 | 15 | 0 | 0 | Q2 |
Contenu de l'AA
- Microscopie à effet tunnel o principe général o applications o spectroscopie tunnel - Microscopie à force atomique o présentation générale o microscopie en mode dynamique o courbes de force o aspects expérimentaux - Autres microscopies de force o Microscopie à force électrostatique et techniques apparentées o Microscopie à force magnétique - Microscopies optiques locales - Modifications de surface par sonde locale o Nanolithographie électrochimique o Modifications mécaniques o Nanolithographie par dépôt dencre
Supports principaux non reproductibles
fichiers powerpoint
Support complémentaires non reproductibles
Sans objet
Autres références conseillées
Sans objet
Mode d'enseignement
- Face à face
Types d'évaluation du Q1
- Néant
Commentaire sur l'évaluation Q1
Sans objet
Types d'évaluation Q2
- Présentation et travaux
Commentaire sur l'évaluation Q2
Sans objet
Types d'évaluation du Q3
- Présentation et travaux
Commentaire sur l'évaluation Q3
Sans objet
Commentaire sur l'évaluation Q1ratt. B1BA
Sans objet
Types d'activités
- Cours (cours magistraux; conférences)
- Préparations, travaux, recherches d'information